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贝克休斯超声波测厚仪探头

简要描述:贝克休斯超声波测厚仪探头,欧洲规格G...MN系列,高精度超声波测厚仪CL5 适用。

  • 产品型号:系列
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2022-12-01
  • 访  问  量:1805

详细先容

品牌其他品牌价格区间1千-5千
产地类别进口应用领域航天,汽车,电气,综合
标准欧规

贝克休斯超声波测厚仪探头

延迟块直探头.jpg

贝克休斯超声波测厚仪探头


欧洲规格G...MN系列


A=11B=13 C=25.6

晶片直径5mm带宽45-65   Microdot接口,延迟块需单独订货

型号

频率

近场距离

G5MN

5MHz

5mm

G10MN

10MHz

10mm

G15MN

15MHz

15mm

9.5mm延迟块CLFV1

12.5mm延迟块CLFV3

北美规格DFR系列


Mini-DFR:A=10.4mmB=19.6mm C=4.8mm

6mm晶片DFR:A=13mmB=21.3mm C=7.6mm

13mm晶片DFR:A=22.4mmB=35.1mm C=15.2mm

Mini-DFR探头晶片尺寸3mm,频率20MHz,带宽50-100,Microdot接口

型号:FDCP--XCDR MINIDFR 20X.12

探头订货号:113-518-650,延迟块订货号:118-400-502

  • 6mm/13mm晶片DFR探头6dB带宽范围50% -100%

DFR探头订货号:

探头频率

晶片直径

探头订货号

2.25

6

113-122-660

13

113-140-500

3.5

6

113-123-660

5

6

113-124-660

13

113-144-660

10

6

113-126-660

13

113-140-602

15

6

113-127-660

配合6mm晶片的9.5mm延迟块订货号:118-440-050

配合6mm晶片的12.5mm延迟块订货号:118-440-051

配合13mm晶片的12.5mm延迟块订货号:118-440-052

笔试探头K-PEN



聚集,高分辨率笔式探头

延迟块、手柄可更换

极小接触面,用于高度弯曲表面,如涡轮叶片

能够伸到表面凹坑底部测量壁厚

探头订货号:


7.5MHz

20MHz

笔直探头

389-042-200

389-030-290

45°探头

389-042-880

389-041-270

90°探头

389-042-870

389-040-66

直径1.7mm延迟块387-003-109

直径2.3mm延迟块387-003-110

探头750-5.jpg


贝克休斯 绝对式涡流探头 系列


特征:

绝对式

屏蔽式

笔式塑料外壳(方便手持)

Micordot接口


用途:

铁或非铁材料的表面开口缺陷检测

适合在狭窄的空间检测


贝克休斯 探伤仪欧规探头 系列


特点

持久耐磨的工作面

与金属匹配良好

比保护膜探头有更高增益余量


应用

用于检测结构简单的金属零件如大型锻件、铸件、坯料

小款探头用于管材、板材、棒材、储罐、小型锻件

叠层、分层结构、粘接检测

大型部件和难于穿透的材料检测


美国Bakerhughes 贝克休斯超声波探头 系列

贝克休斯超声波探头
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